可靠性试验中常见的失效模式有哪些?怎么分析根因?

可靠性试验的根本目的不是“通过测试”,而是“激发失效”。当样品在高温、振动或盐雾中倒下时,工程师的工作才刚刚开始。面对失效样品,如何抽丝剥茧找到真凶?

三大典型失效模式

模式典型表现常见原因
开路/短路 (Open/Short)产品死机、功能丧失焊点疲劳断裂、PCB板CAF漏电、金属迁移枝晶。
参数漂移 (Drift)精度下降、信号变差电阻阻值变化、电容电解液干涸、芯片老化。
机械损坏 (Mechanical)外壳破裂、螺丝松脱材料低温脆化、振动应力集中、螺丝扭矩不足。

根因分析(RCA)的“侦探工具”

找到失效模式只是第一步,我们要找的是Root Cause(根本原因)。

1. 逻辑分析法:5 Why & 鱼骨图

不要停留在表面。

问:为什么断路?答:焊点裂了。

问:为什么裂了?答:应力过大。

问:为什么应力大?答:PCB板在高温下弯曲。

问:为什么弯曲?答:由于成本限制选用了低Tg板材。 ——这才是根因。

2. 物理分析法 (FA)

利用科技手段“验尸”:

  • X-Ray/CT: 无损透视内部结构。
  • 切片 (Cross-section): 查看焊点金相组织。
  • SEM/EDS: 电子显微镜分析断口形貌和元素成分。

总结

失效是产品送给工程师的礼物。通过科学的根因分析,我们能将每一次测试失败转化为产品质量的提升,避免同样的错误在量产中重演。

广州海沣不仅提供可靠性测试环境,更配备了专业的失效分析(FA)实验室。无论是电测失效还是机械损坏,我们的专家团队都能协助您运用物理及逻辑分析工具,快速锁定根因并提供改进建议。

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