半导体分立器件试验:GJB128A-1997

半导体分立器件试验依据GJB128A-1997标准开展,覆盖电参数、环境、机械、可靠性等试验方法。本文详解试验项目、方法及办理流程,帮助企业获取符合国军标的分立器件检测报告。